Измерительная и испытательная аппаратура

Проходная камера для проведения статического и функционального контроля микросхем при пониженной, повышенной и нормальной температуре среды.

Стенд предназначен для проведения испытаний на воздействие повышенной рабочей температуры среды от 70 до 160 ºС на электронные компоненты под электрической нагрузкой.

Стенд предназначен для проведения электротермотренировки, испытаний на воздействие температуры и на безотказность при контроле температуры корпуса тепловыделяющих электронных компонентов, находящихся под электрической нагрузкой.