Проходная камера

Описание

Проходная камера для проведения статического и функционального контроля микросхем при пониженной, повышенной и нормальной температуре среды.

Технические характеристики стенда

Диапазон воспроизводимых температур, не менее -60 до +150°C
Отклонения температуры от заданного значения в точках рабочей зоны камеры в диапазоне от -60 °С до +100 °С, не более 1.5°C
Отклонения температуры от заданного значения в точках рабочей зоны камеры в диапазоне от +100 °С до +125 °C, не более 1.5°C
Интервал времени достижения предельных температур от +23 +/-3 °С до 125 °С, не более 20 мин
Интервал времени достижения предельных температур камеры от +23 +/-3 °С до -60 °С, не более 20 мин от -60 до +125°C и обратно 40 мин
Диапазон времени выдержки микросхем в камере от 2 сек до ∞ (задается программно)
Отклонение действительного значения времени выдержки от заданных, не более задается программно
Аварийная блокировка по температуре 0-160°C
Охлаждение осуществляется парами азота из сосуда Дьюара под давлением 0.3-0.15 атм
Количество позиций (пеналов) сортировки 3 шт
Количества позиций (пеналов) загрузки 1 шт
Максимальная загрузка спутников (32х32 мм) в пенал, не более 108 шт
Количество спутников (32х32 мм) в температурной камере, не более 100 шт
Расход жидкого азота 2 л/ч
Сортировка микросхем после тестирования автоматическая с сигналом завершения спутников в пенале
Загрузка спутников в пенал ручная
Контактирующие устройства, устанавливаемые в камеру УК16 – УК48, для спутника 32х32 мм
Интерфейс для согласования с измерительным оборудованием RS 232 и GPIB

Документация
Проходная камера - Измерительная и испытательная аппаратура
Другие продукты
Измерительная и испытательная аппаратура
Акустический тензометр «ТМА-01»
Предназначен для измерения двуосных механических напряжений в элементах металлоконструкции, деталях и изделиях под воздействием нагрузок и определения степени накопления усталостных повреждений в металле.
Измерительная и испытательная аппаратура
Стенд испытаний электронных компонентов СИЭК-160
Стенд предназначен для проведения испытаний на воздействие повышенной рабочей температуры среды от 70 до 160 ºС на электронные компоненты под электрической нагрузкой.
Измерительная и испытательная аппаратура
Стенд Бескамерных Испытаний Тепловыделяющих Электронных Компонентов СБИТЭК-125
Стенд предназначен для проведения электротермотренировки, испытаний на воздействие температуры и на безотказность при контроле температуры корпуса тепловыделяющих электронных компонентов, находящихся под электрической нагрузкой.
Измерительная и испытательная аппаратура
Прибор для измерения временных интервалов БНН-03
Прибор измерения временных интервалов, длительностей и периодов следования импульсов предназначен для применения при разработке и испытаниях радиотехнических информационно-управляющих систем, систем связи и телекоммуникаций.